X射線階梯試塊GB/T35394-2017
X射線階梯試塊
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X射線階梯試塊，參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T35394-2017
階梯試塊的用途：X射線階梯試塊GB/T35394-2017用于對比度靈敏度、厚度寬容度和曝光曲線的測定。
X射線階梯試塊，參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T35394-2017
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